計數(shù)法是用直接統(tǒng)計不同粒度顆粒個數(shù)的方法確定物料的粒度組成，可分為間接法和直接法兩類。

所謂間接法，是對顆粒的圖像進行測量和統(tǒng)計，故又稱為圖像法，包括從利用宏觀放大鏡和宏觀照相術到利用光學和電子顯微鏡以及電子探針測定，圖像與實物的比例從縮小100倍到放大105倍。

直接法是對實物顆粒進行直接測量和統(tǒng)計，可進一步分為機械計數(shù)法和場干擾法兩類。場干擾法的基本原理是利用固體顆粒穿過某一物理場時導致場強變化，借助于輸出的脈沖訊號統(tǒng)計不同粒度顆粒的數(shù)量，屬于這一類的有一系列現(xiàn)代粒度檢測儀，如激光粒度測定儀和庫爾特公司制造的利用電場干擾原理設計的庫爾特計數(shù)儀。

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